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檢測(cè)

MVP Wafer / Die / Wire Bond / Bump AOI

MVP 900 晶圓 / 微電子和半導(dǎo)體封裝全自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)

[簡(jiǎn)介&摘要]

MVP 900 系列為模組化 AOI 檢測(cè)平臺(tái),提供一系列先進(jìn)的光學(xué)和處理解決方案,包括 3D、高解析度成像和四色光。相機(jī)可搭配至 1 微米以下的解析度。傳送機(jī)構(gòu),可依據(jù)客戶產(chǎn)品做搭配,例如 stip、tray or wafer/wafer frame。 

MVP 900 系列 – 晶圓、晶片和焊線鍵合檢測(cè)等等。 900 系列專注於品質(zhì)、計(jì)量和自動(dòng)化,為半導(dǎo)體、微電子和高可靠性市場(chǎng)提供自動(dòng)化檢查和測(cè)量解決方案。

使用高分辨率 3D 系統(tǒng)、12MP or 25MP 相機(jī)、多層色光和 Multipass 技術(shù),MVP 900 系列可以提供檢測(cè)覆蓋範(fàn)圍,同時(shí)實(shí)現(xiàn)所需的 UPH。

MVP 的檢測(cè)演算法,在同一平臺(tái)上,可對(duì)不同項(xiàng)目做檢查和計(jì)算 ,為客戶帶來(lái)最大的效益。 

[適用產(chǎn)業(yè)&應(yīng)用範(fàn)圍]

電路板及組裝,半導(dǎo)體及封裝,檢測(cè)及其他等。

[規(guī)格&型號(hào)]
MVP 900 系列

檢查項(xiàng)目:
   . 晶圓表面、刮傷、破裂、異物   
   . 晶片置放、偏移、旋轉(zhuǎn)、表面刮傷、外型、邊緣破裂與共面性
    . 固晶膠出血與溢流 (Epoxy Flow and Spread)
    . 焊墊: Wedge, Ball, and Stitch Bonds
    . 焊線外型、直徑、位置及斷線
    . Au, Al, Ag, and Cu Wires
    . 線弧高度檢查(Wire bond with Loop Height, 2D/3D)
    . 錫球檢查
    . 異物
    . SMT 零件
    . Lead frame 品質(zhì)
 
選配
    . 3D 功能
    . Clean room: class 100